表面電阻測(cè)試儀避坑指南
更新時(shí)間：2025-08-20 點(diǎn)擊次數(shù)：375
表面電阻測(cè)試儀是測(cè)量材料表面電阻的核心工具，廣泛應(yīng)用于電子、半導(dǎo)體、防靜電等領(lǐng)域。
表面電阻測(cè)試儀避坑指南：三大常見(jiàn)誤區(qū)
誤區(qū)1：追求“全功能”導(dǎo)致成本浪費(fèi)
案例：某電子廠購(gòu)買支持
測(cè)試的高阻計(jì)，但實(shí)際僅需檢測(cè)防靜電材料，設(shè)備利用率不足30%。
建議：根據(jù)材料電阻特性選擇測(cè)試范圍，避免為用不到的功能付費(fèi)。
誤區(qū)2：忽視電極適配性
案例：某汽車廠商使用平行電極測(cè)試異形零件，導(dǎo)致接觸不良，測(cè)試誤差達(dá)20%。
建議：根據(jù)樣品形狀選擇電極類型，異形表面優(yōu)先選用雙點(diǎn)探針。
誤區(qū)3：未考慮環(huán)境干擾
案例：某化工廠在電磁干擾環(huán)境下使用非屏蔽型號(hào)，數(shù)據(jù)波動(dòng)超過(guò)±15%。
建議：工業(yè)場(chǎng)景務(wù)必選擇具備電磁屏蔽功能的型號(hào)，或單獨(dú)配置屏蔽箱。
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