在測(cè)量絕緣電阻中，除了在上一篇文章中已經(jīng)論述的影響絕緣電阻的諸因素會(huì)影響測(cè)得的電阻值之外，還有儀器本身的誤差;測(cè)量裝置中漏電流、寄生的電動(dòng)勢(shì)以及試樣留下的殘余電荷等，都會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。

儀器測(cè)量誤差

各種直讀儀表一般都有誤差范圍的說(shuō)明。非直讀儀器或者自行組建的測(cè)量系統(tǒng)，可以從儀器或組成儀表的精確度等級(jí)上，知道測(cè)量值可能的誤差，有些測(cè)量方法是要通過(guò)幾個(gè)參數(shù)的測(cè)量最后由計(jì)算式計(jì)算出結(jié)果，這時(shí)就可采用間接誤差計(jì)算方法來(lái)計(jì)算總的誤差。

漏電流

在測(cè)量絕緣電阻的線路中，各部件、開(kāi)關(guān)、試樣支架等本身的絕緣電阻都不是無(wú)限大的，它們中都存在著微小的漏電流，在測(cè)量很高的絕緣電阻時(shí)，由于待測(cè)的電流是極微小的，這些漏電流就可能造成極大的誤差。漏電流是從高壓部分經(jīng)過(guò)各部分的電阻(用R1表示)流進(jìn)測(cè)試儀器，這部分電流就使測(cè)得的電阻值偏小了。另一種漏電流是通過(guò)試樣的待測(cè)電流，被測(cè)試儀器輸人端并聯(lián)的低電阻分流，這種漏電流就使測(cè)得的電阻值偏大。

要減小I1就必須提高R1，要求R>100Rx，有時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，必須采用特殊的保護(hù)技術(shù)才能解決。消除漏電流的保護(hù)技術(shù)是用一導(dǎo)體安插到漏電流的途徑中，將漏電流引到電源的回路中去，使之不流經(jīng)測(cè)試儀器；或者使漏電流所經(jīng)的電阻與測(cè)試線路中低電阻元件并聯(lián),從而使漏電流的影響可以忽略不計(jì)。

在測(cè)量體積電阻時(shí)，把保護(hù)電極安插在試樣表面電流的途徑中，將表面電流截住引回電源，使測(cè)得的電流只是體積電流。這也是保護(hù)技術(shù)的應(yīng)用。

寄生電動(dòng)勢(shì)和外電場(chǎng)

在絕緣電阻的測(cè)試電路中，很難避免存在各種寄生的電動(dòng)勢(shì)，如熱電動(dòng)勢(shì)、接觸電動(dòng)勢(shì)、電解電動(dòng)勢(shì)以及其他感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)等，這些電動(dòng)勢(shì)一般數(shù)值都很小，但在測(cè)量很高的電阻時(shí)，或是出現(xiàn)在測(cè)試電路的敏感部位時(shí)，寄生電動(dòng)勢(shì)帶來(lái)的影響也不可忽視。

檢查各種寄生電動(dòng)勢(shì)和外電場(chǎng)影響的方法很簡(jiǎn)單，只要測(cè)試裝置全部接好并調(diào)節(jié)到測(cè)量的狀態(tài)，只是不加直流電壓，這時(shí)儀器若指零，則說(shuō)明各種電動(dòng)勢(shì)的影響都可以忽略。

剩余電荷

當(dāng)試樣上施加直流電壓時(shí)，試樣表面層將會(huì)積聚上極化電荷，在電極上也增加了相應(yīng)的自由電荷。之后若去除施加的電壓，并將試樣短路，電極上的電荷也不會(huì)瞬時(shí)都放光，而是隨著極化電荷的消失而逐漸消失。如果在一塊試樣上測(cè)量體積電阻之后，接著就測(cè)表面電阻，那么就可能由于極化電荷的存在而造成誤差。